Etapa de desplazamiento manual del eje R: deslizamiento de ajuste fino de rotación de inclinación, plataforma de corte de micrómetro de aluminio, paso ± 4,1°, capacidad de carga de 1 kg, para

- Control de precisión: esta etapa de inclinación y rotación cuenta con un cabezal micrométrico que permite ajustes de rotación de ±4,1° y ±9,5°, asegurando una alineación precisa de los componentes ópticos.
- Alta precisión: el cabezal del micrómetro está graduado a 10 μm, proporcionando un ajuste de inclinación/inclinación de 1,85° por revolución (resolución de 0,037°) y rotación de 1,7° por revolución (resolución de 0,034°), ofreciendo una precisión de ajuste excepcional.
- Montaje versátil: la superficie de la mesa está equipada con 21 agujeros de tornillo M4 (12,5 mm de espacio) y 3 orificios pasantes φ6,7, simplificando la instalación de accesorios y asegurando una conexión segura a la plataforma óptica.
- Diseño compacto: con dimensiones del producto de φ70 x 37,5 mm y una altura de 37,5 mm, esta etapa soporta una capacidad de carga de 1 kg. Incluye una perilla ajustada a mano para facilitar los ajustes del límite del eje XYZ y bloqueo temporal.
- Aplicación ideal: diseñada para la alineación plana y rotación de componentes ópticos y accesorios, esta etapa ofrece un equilibrio de ajustes precisos, opciones de instalación flexibles y capacidades de carga estables, lo que la hace adecuada para una variedad de configuraciones experimentales ópticas.